Instrukcja obsługi OMRON ZS DATASHEET

[. . . ] Jeli w trybie wysokiej szybkoci natenie wiatla okae si niedostateczne, mona to skompensowa ustawieniami wzmocnienia (w skali od 0 do 5). Nowy tryb pomiaru szkla Czujnik CMOS umoliwia pomiar rónych odbi Szklo Grubo szkla Odleglo midzy warstwami szkla ZS-LD20T/ZS-LD40T Inteligentny sposób analizy powierzchni szklanych i lustrzanych Wymiarowanie obiektów przezroczystych Kiedy wizka wiatla pada na powierzchni obiektu, pewna jej cz ulega odbiciu, cz przechodzi przez obiekt, a reszta zostaje pochlonita. W przypadku materialów przezroczystych, takich jak szklo, czujnik ZS-L moe odbiera wiatlo odbite od górnej powierzchni, powierzchni wewntrznych i od cianki dolnej elementu szklanego. · Znakomite funkcje umoliwiajce pomiary o wysokiej dokladnoci dotyczce powierzchni plytek pólprzewodnikowych, szklanych i innych · Niespotykana dokladno pomiaru stacjonarnego rzdu 0, 01 m -- najwysza w tej klasie produktów · Stabilny pomiar wysokoci i pofalowania powierzchni przezroczystych, powlekanego szkla na stolach roboczych. Za pomoc menu mona latwo ustawi warunki pomiarowe dla szerokiej gamy typów szkla w celu uzyskania stabilnych pomiarów · Wyjtkowa stabilno pomiaru i szybka reakcja przy submikronowej rozdzielczoci umoliwiaj pomiar gruboci szkla w trakcie procesu produkcyjnego Bezporednie ustawianie pomiaru FUN (tryb ustawiania) Bezporednie ustawianie za pomoc klawiszów funkcyjnych Advanced Industrial Automation Bezporednie ustawianie pomiaru FUN (tryb ustawiania) Czytelny 6-cyfrowy 2-wierszowy wywietlacz danych pokazuje warto mierzon oraz obliczon Klawisze funkcyjne i obsluga za pomoc menu ulatwiaj konfiguracj. [. . . ] 1 mW, JIS: klasa 2) Wi zka liniowa 2000 × 35 µm 0, 4 µm 0, 02% zakresu skali/°C Ok. 25 × 900 µm 0, 25 µm 0, 04% zakresu skali/°C 0, 25 µm rednica wi zki *1 *3 Rozdzielczo Charakterystyka temperaturowa *4 Cykl próbkowania Wska niki LED Wska nik NEAR (BLISKO) Wska nik FAR (DALEKO) Temperatura otoczenia Wilgotno Materia y D ugo Masa Akcesoria kabla otoczenia Stopie ochrony 110 µs (tryb szybki), 500 µs (tryb standardowy), 2, 2 ms (tryb du ej precyzji), 4, 4 ms (tryb du ej czu o ci) wieci, gdy odleg o jest bliska rodka pomiaru i mniejsza od odleg o ci rodka pomiaru oraz pozostaje w obr bie zakresu pomiarowego Miga, gdy cel pomiaru znajduje si poza zakresem pomiaru lub gdy ilo odbieranego wiat a jest niewystarczaj ca wieci, gdy odleg o jest bliska rodka pomiaru, ale wi ksza od odleg o ci rodka pomiaru oraz pozostaje w obr bie zakresu pomiarowego Miga, gdy cel pomiaru znajduje si poza zakresem pomiaru lub gdy ilo odbieranego wiat a jest niewystarczaj ca Praca: 050°C, sk adowanie: od 15 do +60°C (bez oblodzenia ani kondensacji) Praca i sk adowanie: 3585% (bez kondensacji) D ugo kabla 0, 5 m: IP66, d ugo kabla 2 m: IP67 IP40 Obudowa: odlew aluminiowy; pokrywa czo owa: szk o 0, 5 m, 2 m Ok. 350 g Nalepki na urz dzenia laserowe (po 1 dla JIS/EN, 3 dla FDA), rdzenie ferrytowe (2), zamki niezabezpieczone (2), instrukcja Ok. 400 g Nalepki ostrzegawcze na urz dzenia laserowe (po 1 dla JIS/EN), rdzenie ferrytowe (2), zamki niezabezpieczone (2) O wietlenie rodowiska pracy O wietlenie na powierzchni odbiornika wiat a: 3000 lx lub mniej ( wiat o sztuczne) *1 *2 *3 *4 Okre lona jako 1/e2 (13, 5%) centralnego nat enia wiat a w rzeczywistej odleg o ci rodka pomiaru (warto efektywna). Na rednic wi zki maj czasem wp yw warunki otoczenia mierzonego obiektu, np. powoduj ce ubytek wiat a z wi zki g ównej. Jest to odchy ka warto ci mierzonej od idealnej linii prostej. Obiektem standardowym jest bia a ceramika aluminiowa oraz szk o w trybie odbicia kierunkowego. Liniowo mo e zale e od rodzaju obiektu, którego dotyczy pomiar. Jest to warto konwersji przesuni cia mi dzy maksimami na wyj ciu przesuni cia w odleg o ci rodka pomiaru, gdy liczba u rednianych próbek jest ustawiona na 128, a pomiar jest ustawiony na tryb du ej precyzji. Obiektem standardowym jest bia a ceramika aluminiowa oraz szk o w trybie odbicia kierunkowego. Jest to warto otrzymana w odleg o ci rodka pomiaru, gdy czujnik i obiekt s unieruchomione za pomoc aluminiowego uchwytu. Przemieszczenie / czujniki pomiarowe 2 13 Przemieszczenie / czujniki pomiarowe Rodzina ZS G owice czujników serii ZS-L Parametr Stosowane kontrolery Zasada optyczna Odleg o od rodka pomiaru Przemieszczenie / czujniki pomiarowe ZS-LD50 Seria ZS-HLDC/LDC Odbicie Odbicie Odbicie Odbicie Odbicie Odbicie Odbicie Odbicie Odbicie Odbicie Odbicie rozproszone rozproszone kierunkowe rozproszone kierunkowe rozproszone kierunkowe rozproszone kierunkowe rozproszone kierunkowe 50 mm ±5 mm 47 mm ±4 mm 50 mm ±5 mm 47 mm ±4 mm 80 mm ±15 mm 78 mm ±14 mm 130 mm ±15 mm 130 mm ±12 mm 200 mm ±50 mm 200 mm ±48 mm 350 mm ±135 mm Wi zka punktowa Model ZS-LD50S ZS-LD80 ZS-LD130 ZS-LD200 ZS-LD350S Zakres pomiaru ród o wiat a Kszta t wi zki rednica wi zki *1 Laser pó przewodnikowy wiat a widzialnego (d ugo Wi zka liniowa 900 × 60 µm ±0, 1% zakresu skali Wi zka punktowa fali: 650 nm, maks. 1 mW, JIS: klasa 2) Wi zka liniowa 600 × 70 µm ±0, 25% zakresu skali Wi zka liniowa 900 × 100 µm ±0, 1% zakresu skali 5 µm 0, 02% zakresu skali/°C ±0, 25% zakresu skali Wi zka liniowa 900 × 60 µm 50 µm 240 µm ±0, 1% zakresu skali Liniowo *2±0, 1% zakresu pomiarowego Rozdzielczo *3 0, 8 µm 0, 02% zakresu skali/°C 0, 8 µm 0, 02% zakresu skali/°C 2 µm 0, 01% zakresu skali/°C 3 µm 0, 02% zakresu skali/°C 20 µm 0, 04% zakresu skali/°C Charakterystyka temperaturowa *4 Cykl próbkowania *5 110 µs (tryb szybki), 500 µs (tryb standardowy), 2, 2 ms (tryb du ej precyzji), 4, 4 ms (tryb du ej czu o ci) Wska niki LED Wska nik wieci, gdy odleg o jest bliska rodka pomiaru i mniejsza od odleg o ci rodka pomiaru oraz pozostaje w obr bie zakresu pomiarowego NEAR (BLISKO) Miga, gdy cel pomiaru znajduje si poza zakresem pomiaru lub gdy ilo odbieranego wiat a jest niewystarczaj ca Wska nik FAR wieci, gdy odleg o jest bliska rodka pomiaru, ale wi ksza od odleg o ci rodka pomiaru oraz pozostaje w obr bie zakresu pomiarowego (DALEKO) Miga, gdy cel pomiaru znajduje si poza zakresem pomiaru lub gdy ilo odbieranego wiat a jest niewystarczaj ca O wietlenie rodowiska pracy O wietlenie na powierzchni odbiornika wiat a: 3000 lx lub mniej ( wiat o sztuczne) O wietlenie na O wietlenie na powierzchni odbiornika wiat a: powierzchni odbiornika 3000 lx lub mniej ( wiat o sztuczne) wiat a: 2000 lx lub mniej ( wiat o sztuczne) Temperatura otoczenia Wilgotno Materia y D ugo Masa Akcesoria *1 *2 *3 *4 *5 Praca: 050°C, sk adowanie: od 15 do +60°C (bez oblodzenia ani kondensacji) Praca i sk adowanie: 3585% (bez kondensacji) D ugo kabla 0, 5 m: IP66, d ugo kabla 2 m: IP67 Obudowa: odlew aluminiowy; pokrywa czo owa: szk o 0, 5 m, 2 m Ok. 350 g Nalepki na urz dzenia laserowe (po 1 dla JIS/EN, 3 dla FDA), rdzenie ferrytowe (2), klamry monta owe (2), instrukcja otoczenia Stopie ochrony kabla Okre lona jako 1/e2 (13, 5%) centralnego nat enia wiat a w rzeczywistej odleg o ci rodka pomiaru (warto efektywna). Na rednic wi zki maj czasem wp yw warunki otoczenia mierzonego obiektu, np. powoduj ce ubytek wiat a z wi zki g ównej. Jest to odchy ka warto ci mierzonej od idealnej linii prostej. Obiektem standardowym jest bia a ceramika aluminiowa oraz szk o w trybie odbicia kierunkowego czujnika ZSLD50/LD50S. Liniowo mo e zale e od rodzaju obiektu, którego dotyczy pomiar. Jest to warto konwersji przesuni cia mi dzy maksimami na wyj ciu przesuni cia w odleg o ci rodka pomiaru, gdy liczba u rednianych próbek jest ustawiona na 128, a pomiar jest ustawiony na tryb du ej precyzji. Obiektem standardowym jest bia a ceramika aluminiowa oraz szk o w trybie odbicia kierunkowego czujnika ZS-LD50/LD50S. Jest to warto otrzymana w odleg o ci rodka pomiaru, gdy czujnik i obiekt s unieruchomione za pomoc aluminiowego uchwytu. [. . . ] 280 g (bez opakowania i akcesoriów) Rdze ferrytowy (1), instrukcja otoczenia Stopie ochrony Wyj cie listwy zaciskowej wyst puje w modelu ZS-HLDC@1. Mo e by u ywany z czujnikiem ZS-HLDC@1 przy wybranym trybie wielozadaniowo ci. Cat. Q18E-PL-01 Ze wzgl du na sta e unowocze nianie wyrobu dane techniczne mog by zmieniane bez uprzedzenia. POLSKA Omron Electronics Sp. Mariana Sengera "Cichego" 1, 02-790 Warszawa Tel: +48 (0) 22 645 78 60 Fax: +48 (0) 22 645 78 63 www. omron. com. pl Displacement/measurement sensors - Cat. [. . . ]